Veyvlet-Obrabotka (Paperback)

V sovremennom poluprovodnikovom materialovedenii vsye chashche trebuyutsya tekhnologii tsifrovoy obrabotki signalov dlya povysheniya chuvstvitel'nosti i informativnosti metodov diagnostiki strukturnogo sovershenstva monokristallov. Zadacha osobenno aktual'na dlya metodov, predostavlyayushchikh naglyadnoe izobrazhenie vnutrenney struktury kristalla. Predstavlennaya monografiya posvyashchena voprosu primeneniya veyvlet-analiza v tsifrovoy obrabotke izobrazheniy strukturnykh defektov monokristallicheskikh poluprovodnikov. V kachestve eksperimental'noy bazy, rassmatrivayutsya metody rentgenovskoy topografii i polyarizatsionno-opticheskogo analiza. Predstavleno poetapnoe postroenie metodiki i algoritmov veyvlet-obrabotki. Izlozheny osnovnye aspekty veyvlet-obrabotki v zadachakh ustraneniya fonovoy neodnorodnosti polyarizatsionno-opticheskikh izobrazheniy i zernistogo kontrasta rentgenovskikh topograficheskikh snimkov. Rabota osnovyvaetsya na materialakh dissertatsionnogo issledovaniya, posvyashchyennogo dannomu voprosu i provodivshegosya s 2002 po 2006 g. Monografiya mozhet predstavlyat' interes dlya nauchnykh rabotnikov i inzhenernykh spetsialistov v oblasti tekhnologiy materialov mikro- i nanoelektroniki, tsifrovoy obrabotki signalov i izobrazheniy.