La predicción y la medición de diferentes propiedades físicas de materiales metálicos de dimensiones nanometricas fueron estudiados mediante el desarrollo e implementación de un modelo analítico.Para ello, se diseñaron e implementaron diferentes sistemas experimentales con el objetivo de verificar las propiedades físicas predichas con el modelo analítico. Un sistema para medir la resistividad eléctrica en muestras metálicas con geometra de película delgada fue desarrollado, teniendo como fundamento la ley de Ohm. Un modelo termodinámico desarrollado para sistemas de bimateriales, película metálica/substrato de vidrio y Silicio, tanto en estado estacionario como estado transitorio, permite estudiar el coeficiente de convección, el coeficiente de expansión térmica y la capacidad calorífica de las películas nanometricas. Un método para correlacionar las propiedades mecánicas, morfológicas y eléctricas fue desarrollado para sistemas bimateriales película metálica/substrato poliméricos.
