Dieses Fachbuch behandelt moderne Verfahren zur Charakterisierung von Dünnschicht-Solarzellen. Diese Verfahren sind für die Photovoltaik-Forschung und -Entwicklung relevant, sowohl im wissenschaftlichen Bereich als auch bei Unternehmen. Nach einer Einführung in die Dünnschicht-Photovoltaik erläutern Experten Methoden für die Geräte- und Materialcharakterisierung, wie die Elektrolumineszenz-Analyse, die Kapazitätsspektroskopie sowie verschiedene mikroskopische Verfahren. Am Ende des Buches werden Simulationstechniken vorgestellt, die für ab-initio-Berechnungen entsprechender Halbleiter und für Gerätesimulationen in bis zu 3 Dimensionen verwendet werden.
Diese neue Auflage baut auf einem bewährten Konzept auf und beschäftigt sich auch mit transienten optoelektronischen Methoden und der Fotostrom-Spektroskopie, der Charakterisierung des Dünnschichtwachstums in Echtzeit und vor Ort sowie mit Simulationen auf Basis der Molekulardynamik.
